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方塊電阻測試儀 電阻測試儀
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方塊電阻測試儀 電阻測試儀
產品型號： ST-21
產品編號：TC-002624
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方塊電阻測試儀 電阻測試儀 型號： ST-21
方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準，**門測量半導體薄層電阻（表面電阻）的新型儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜（ITO透明氧化膜），金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。
該儀器以大規模集成電路為主要核心；用基準電源和運算放大器組成高精度穩流源；帶回路有效正常指示電路；并配以大型LCD顯示讀數，使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測量速度快、精度高的特點。
◆ 特點：
1 采用大規模集成電路作為儀器的主要部分，測量準確穩定，低功耗；
2 以大屏幕LCD顯示讀數，直觀清晰；
3 采用單個電池供電，帶電池欠壓指示；
4 體積≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g；
5 特制之手握式探筆，球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜
6 探頭帶抗靜電模塊
◆ 技術指標：
測量范圍 按方塊電阻量值大小分為二個量程檔：
1.方塊電阻 1.00～199.99Ω/□；
2.方塊電阻 10.0～1999.9Ω/□；
恒流源 測量過程誤差：≤±0.8%
模數轉換器 量程：0～199.99mv；
分辨率：10μv；
方式：LCD大屏幕顯示；性，量程均自動顯示；小數點同步顯示；
測量不確定度 在整個量程范圍內，測量不確定度≤5%
四探針探頭規格 間距：1mm、1.59mm、3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ
電源 9V疊層電池1節
方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準，**門測量半導體薄層電阻（表面電阻）的新型儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜（ITO透明氧化膜），金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。
該儀器以大規模集成電路為主要核心；用基準電源和運算放大器組成高精度穩流源；帶回路有效正常指示電路；并配以大型LCD顯示讀數，使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測量速度快、精度高的特點。
◆ 特點：
1 采用大規模集成電路作為儀器的主要部分，測量準確穩定，低功耗；
2 以大屏幕LCD顯示讀數，直觀清晰；
3 采用單個電池供電，帶電池欠壓指示；
4 體積≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g；
5 特制之手握式探筆，球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜
6 探頭帶抗靜電模塊
◆ 技術指標：
測量范圍 按方塊電阻量值大小分為二個量程檔：
1.方塊電阻 1.00～199.99Ω/□；
2.方塊電阻 10.0～1999.9Ω/□；
恒流源 測量過程誤差：≤±0.8%
模數轉換器 量程：0～199.99mv；
分辨率：10μv；
方式：LCD大屏幕顯示；性，量程均自動顯示；小數點同步顯示；
測量不確定度 在整個量程范圍內，測量不確定度≤5%
四探針探頭規格 間距：1mm、1.59mm、3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ
電源 9V疊層電池1節
